Spectro Instruments
Optisches Sytem |
Split-Beam-Technik mit Referenzdetektor |
2-Strahl Optik : Probe- und Referenzposition |
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Detektor |
Silizium Photodiode |
Lichtquellen |
Deuterium und Halogenlampe |
Wellenlängenbereich |
190 - 1100 nm |
Wellenlängengenauigkeit |
+/- 0,3 nm |
Wellenlängenreproduzierbarkeit |
<= +/- 0,1 nm |
Wellenlängen-Schritte |
0,1 - 0,2 - 0,5 - 1 nm |
Spektrale Bandbreite |
T85 :1,8 nm , T85+ : 0,5 , 1 , 2 , 4 nm |
Streulicht |
> 3,3 Abs ( 220 nm, NaJ ) |
Photometrischer Messbereich |
-3,0 - 3,0 Abs |
Photometrische Genauigkeit |
+/- 0,002 Abs ( 0 - 1 Abs ) |
Photometrische Reproduzierbarkeit |
+/- 0,002 Abs ( 0 - 1 Abs ) |
Abweichung von der Basislinie |
+/- 0,001 Abs ( 200 - 1000nm ) |
Rauschen |
+/- 0,0004 Abs ( 500nm ) |
Drift |
+/- 0,0004 Abs/h bei 500 nm |
Messmethoden |
feste Wellenlängen, Scan, Quantitativ, Kinetik |
Küvettenwechsler |
8-fach, automatisch |
Anzeige |
10" 800 x 480 Touchscreen Display |
Druckeranschluß |
USB |
PC-Interface |
USB Schnittstelle |
PC-Software, optional |
DPA-Win unter Windows 7, 10,11 |
Abmessungen |
B x T x H = 600 x 400 x 210 mm |
Gewicht |
28 kg |